Особливості експертного дослідження слідів дії відмичок на внутрішніх поверхнях циліндрових механізмів замків

Скорочена інформація про документ
dc.contributor.authorВ. Г. Чернов
dc.contributor.authorЄ. А. Голомісюк
dc.contributor.authorП. О. Євсєєв
dc.date.accessioned2026-04-08T09:59:33Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractРозглядаються особливості експертного дослідження слідів дії сторонніх предметів на внутрішніх поверхнях циліндрових механізмів замків. Метою роботи є оприлюднення результатів дослідження механізму слідоутворення та локалізації ознак впливу сторонніх предметів на внутрішніх поверхнях циліндрових механізмів замків та надання рекомендації судовим експертам при формулюванні висновків під час проведення трасологічних досліджень. Надані результати експериментальних досліджень циліндрових механізмів замків. Ілюстрації пояснюють умови локалізації слідів на відповідних частинах циліндрових механізмів замків від дії сторонніх предметів та комплектних ключів. Запропоновано рекомендації судовим експертам щодо формулювання висновків при дослідженні циліндрових механізмів замків.
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-6050-7768
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-6050-7768
dc.identifier.orcidhttps://orcid.org/0000-0001-6050-7768
dc.identifier.urihttps://dspace.nncise.org.ua/handle/123456789/608
dc.language.isouk
dc.publisherНаціональний науковий центр «Інститут судових експертиз ім. Засл. проф. М.С. Бокаріуса»
dc.subjectтрасологічна експертиза
dc.subjectциліндровий механізм замку
dc.subjectвідмикання
dc.subjectсторонні предмети
dc.subjectвідмички
dc.titleОсобливості експертного дослідження слідів дії відмичок на внутрішніх поверхнях циліндрових механізмів замків
dc.typeArticle

Файли

Контейнер файлів

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
332-Article Text-665-1-10-20200405.pdf
Розмір:
972.32 KB
Формат:
Adobe Portable Document Format
Завантажити

Ліцензійна угода

Зараз показуємо 1 - 1 з 1
Ескіз
Назва:
license.txt
Розмір:
16.25 KB
Формат:
Item-specific license agreed to upon submission
Опис:
Завантажити

Колекції

Том 20, № 2 (2019)